【画像】富士通研究所、先端LSIのソフトエラー発生率を短期間で高精度に測定する技術を開発 (1/2)| RBB TODAY

富士通研究所、先端LSIのソフトエラー発生率を短期間で高精度に測定する技術を開発 1枚目の写真・画像

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測定場所(ハワイ マウナケア山頂)
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