富士通研究所、先端LSIのソフトエラー発生率を短期間で高精度に測定する技術を開発 | RBB TODAY

富士通研究所、先端LSIのソフトエラー発生率を短期間で高精度に測定する技術を開発

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測定場所(ハワイ マウナケア山頂)
  • 測定場所(ハワイ マウナケア山頂)
  • ソフトエラー発生率
 富士通研究所は30日、国立天文台ハワイ観測所と共同で宇宙線の一種である中性子線によって引き起こされる先端LSIの誤動作、ソフトエラーの利用現場における発生率を短期間で高精度に測定する技術を確立した。

 同技術は、中性子線の強度、およびエネルギー分布を正確に測定する中性子線測定器とソフトエラー測定システムを組み合わせて同時に測定することで、中性子線の強度やエネルギー分布とソフトエラー発生率の関係を正確に評価することを可能にしたほか、建物の内と外で中性子線測定を行なうことによって、建物の遮蔽効果がソフトエラー発生率におよぼす影響を評価したもの。また、ソフトエラーの発生率を高精度に評価するため、低地の10倍以上の中性子線の強度が推定されたすばる望遠鏡があるハワイのマウナケア山頂で測定を実施し、中性子線エネルギー分布測定に成功し、短期間で高精度なエラー発生数の統計データを取得することに成功した。

 マウナケナ山頂での中性子線の強度は東京の約16倍、さらに遮蔽効果により東京の7.4倍という結果で、マウナケア山頂で測定したソフトエラー発生率に、7.4分の1倍を掛けて算出した値は、東京で測定した従来のデータや計算値にほぼ一致した。さらに、マウナケア山頂における測定では、90nm世代のSRAM1,024個のサンプルに対して約2,400時間の測定を行ったところ、36回ものソフトエラーを検出できた。
《富永ジュン》

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