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5月21日に起こった金環日食。東京都三鷹市の国立天文台が、日食の動画を動画共有サイトで公開している。3時間近くの天体現象を4分間のダイジェスト映像にまとめた。
国立天文台によると、5月21日の金環日食に続き、6月6日には「日面経過」と呼ばれる金星が太陽面を通過する減少が起こる。今回の日面経過は、21世紀最後の現象で、次回は105年後の2117年12月11日まで起こらないという。
いよいよ明日朝に迫った金環日食。今回の金環日食は、九州南部から関東付近まで、非常に広い範囲が金環帯の領域となり、日本史上最大人数が観察できるものとして注目を集めている。
YouTubeの日本版公式ブログによると、21日の朝、関東地方から南九州にかけて観察できるとされている「金環日食」について、YouTube公式パートナーである国立天文台、Sankei News（産経新聞社）、TBSらがライブストリーミング配信する予定とのこと。
国立天文台は5日、オーストラリアの研究者を中心とする研究チームが、長方形の形状を示す銀河「LEDA074886」の撮影に成功したと発表。その形はまるでエメラルドカットを施したダイヤモンドのようだという。
3月に入り、日没後金星と木星のランデブーが見られるが、今夜は両惑星の間に月が割って入る様子を観察することができる。日没30分後くらいが見ごろと国立天文台では呼びかけている。
2012年5月21日（月）朝の金環日食は、国内の多くの方が観察可能で、神戸・大阪・京都・名古屋・横浜・東京などを含む九州南部から関東付近に掛けた帯状の範囲では、月が太陽の大部分を隠し太陽がリング状に輝く金環食になる。
明日12月10日の夜、日本全国で皆既月食が観察できる。国立天文台によると、晴れていれば日本中で皆既月食の初めから終わりまで見ることができ、このような好条件の月食は約11年振りとのことだ。
パロアルトネットワークスは25日、学術情報ネットワーク（SINET4、サイネット・フォー）に接続する対外ネットワークのゲートウェイとして、国立天文台がPA-4020を導入し、約1年間の段階的な移行作業を終え、本格運用を開始したことを発表した。
国立天文台は、2日に発生した「すばる望遠鏡」の障害についての詳細を公式サイトに掲載した。
ユビテックは8日、「東京大学アタカマ天文台プロジェクト」において、チリ共和国チャナントール山頂の観測施設と山麓基地との間で、約48kmを結ぶ2.4GHz長距離無線アクセス回線を構築し、2月22日に無線通信に成功したことを発表した。
宇宙航空研究開発機構（JAXA）は、4日に起きた日食の静止画と動画を公開した。
東京大学（平木敬研究室）・国立天文台は24日、2010年11月に発表された「Green500リスト」において、共同開発したスーパーコンピュータシステム「GRAPE-DR」が、第2位にランクされたことを発表した。
21日夕方、皆既月食がはじまったが、その様子はTwitterでも話題になった。仕事中にもかかわらず離席して確認しようとする人、オレンジ色の月を見て感動してる人
本日の夕方、2007年8月28日以来3年ぶりの皆既月食を見ることができる。
14日夜から15日早朝にかけ、ふたご座流星群がピークを迎えたが、ウェザーニューズが「ふたご座流星群プレイバック」として昨夜の流星群レポートを公開している。
東大・国立天文台グループは6日、共同開発したスーパーコンピュータシステム「GRAPE-DR」が、電力あたりの性能ランクで世界一となったと発表した。
1月1日（元旦）の早朝、月食が観測できるようだ。国立天文台の「ほしぞら情報」では、午前3時51分から4時53分（秒省略）に確認できるとしている。
2009年は国際天文年、今夜から25日にかけてオリオン座流星群が夜空を賑わわす。もっともよく見られそうなのは午前0時ごろから明け方にかけてだという。秋の夜長を流星観察で過ごしてみたら。
12月の宙博（ソラハク）開催に先駆けて、都内で記者会見が開催された。ここでは展示会の見どころや、環境と天文にかける関係者の思いをビデオで紹介する。
明日7月22日に迫った“世紀の天体ショー”皆既日食。RBB NAViでは「【特集】皆既日食＜2009年7月22日＞」として皆既日食に関する記事をまとめ、ライブ中継情報などを掲載している。
日本国内の陸地で観察できるのは1963年以来46年ぶりとなる皆既日食まであと1か月。国立天文台ホームページでは、7月22日に起こる皆既日食の特設ページがオープンした。
毎年、8月12〜13日頃を中心に活動するペルセウス座流星群。国立天文台では「夏の夜、流れ星を数えよう」キャンペーンを実施する。11日夕方頃より受け付けを開始。
富士通研究所は30日、国立天文台ハワイ観測所と共同で宇宙線の一種である中性子線によって引き起こされる先端LSIの誤動作、ソフトエラーの利用現場における発生率を短期間で高精度に測定する技術を確立した。
