富士通研究所、32nm世代以降のロジックLSI向けの高信頼性多層配線技術を開発 1枚目の写真・画像 | RBB TODAY
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富士通研究所、32nm世代以降のロジックLSI向けの高信頼性多層配線技術を開発 1枚目の写真・画像

 富士通研究所と富士通は12日に、32ナノメートル(以下、nm)世代以降のロジックLSI向け技術として、マンガンを添加した銅配線と、超薄膜のバリアメタルを用いることにより、信頼性の高い多層配線を実現する技術を開発したことを発表した。

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