NEC、非破壊検査技術「テラヘルツ帯画像計測」の大幅な高感度化に成功〜従来に比べ10倍程度向上 1枚目の写真・画像

　日本電気株式会社は28日、非破壊検査技術の一種であるテラヘルツ帯画像計測技術に関し、2次元テラヘルツアレイセンサの感度を、従来技術に比べ10倍程度向上させることに成功したと発表した。