産総研、SRAMの新回路構成を考案〜従来比1.5倍の動作安定、22nm世代メモリの問題解決にメド 1枚目の写真・画像 | RBB TODAY

産総研、SRAMの新回路構成を考案〜従来比1.5倍の動作安定、22nm世代メモリの問題解決にメド 1枚目の写真・画像

 産業技術総合研究所は18日、エレクトロニクス研究部門 先端シリコンデバイスグループの大内 真一 研究員、昌原 明植 主任研究員らが、システムLSIの面積の50%以上を占めるSRAMの動作安定性を、従来技術の1.5倍に高める高性能な新回路を考案したことを発表した。

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従来方式に対する新方式SRAMの回路構成と素子の模式図
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