【画像】三菱電機と立命館大がLSIの個体差を利用したセキュリティ技術を開発 (2/2)| RBB TODAY

三菱電機と立命館大がLSIの個体差を利用したセキュリティ技術を開発 2枚目の写真・画像

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固有ID を生成する試作LSI。左が65nm・2.1mm角で、右が180nm・2.5mm角。この開発によりIoT機器のセキュリティ向上が図れる(画像はプレスリリースより)
固有ID を生成する試作LSI。左が65nm・2.1mm角で、右が180nm・2.5mm角。この開発によりIoT機器のセキュリティ向上が図れる(画像はプレスリリースより)

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