2007年6月の半導体、集積技術に関するニュース一覧

エンタープライズ 2007.6.15(Fri) 19:09

NEC、超微細LSI回路のばらつきを設計段階で予測できるシミュレーション技術を開発

　日本電気とNECエレクトロニクスは15日、京都で開催されていたVLSIシンポジウムで、SRAMセルなどの超微細LSI回路特性の安定性を量産前に高精度に見積もれるシミュレーション技術を開発したと発表した。