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半導体の製造前工程において、ウェハー不良の根本的な原因の特定は、時間とコストを要する極めて重要な課題です。
特に、ウェハー検査で特異なマップパターンが検出された場合、長く複雑な製造プロセスの中から、その発生源を突き止めるのは容易ではなく、対応が遅れれば大量の不良品発生や歩留まりの悪化を招くおそれがあります。
本セミナーでは、ビジュアルデータサイエンスツール「Spotfire」を活用したデモンストレーションを通じて、「ウェハー検査」と各工程における「欠陥検査」のマップパターンを比較し、相関関係を手がかりに、不良発生の起点となる工程を特定する分析事例をご紹介します。
Spotfire イメージ画像
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●講演内容
13:00～13:45
欠陥検査データを活用したウェハー不良の「発生源」特定
●講師
NTTコム オンライン・マーケティング・ソリューション株式会社
データサイエンティスト
三上 康男
大手製造メーカーの工場製造ラインの立ち上げを経験。その後、生産技術者としてプロセス改善や新設備・技術の導入、新製品立ち上げなど幅広い業務に従事。その専門性を活かし、企業の生産プロセスや品質管理の向上に取り組む。現在はデータサイエンティストとして、TIBCOのアナリティクス製品の活用支援を担当。
●NTTコム オンライン・マーケティング・ソリューションについて
NTTコム オンラインは、「データ活用とテクノロジーで、企業の進化を支え抜く。」をミッションとして、データ活用から新たな知見を引き出し、最適なテクノロジーの導入をご支援することで、お客様のビジネスの可能性を拓く伴走者として、進化し続ける企業のデジタライゼーションに貢献します。
名 称： NTTコム オンライン・マーケティング・ソリューション株式会社
所在地： 〒141-0032 東京都品川区大崎1丁目5番1号 大崎センタービル
代表者： 代表取締役社長 稲葉 秀司
URL ： https://www.nttcoms.com/
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